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GB/T2423.1-2008A2009年10月1日開始實(shí)施，替代原替代GB/T 2423.1-2001標(biāo)準(zhǔn)所使用。GB/T2423.1-2008A規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。
GB/T2423.1-2008A代替GB/T 2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫》，與之相比，主要變化如下：
——?jiǎng)h除了試驗(yàn)Aa：非散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的低溫試驗(yàn);
——?jiǎng)h除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E;
——增加了試驗(yàn)Ae：散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)——試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電。
范圍
GB/T 2423的本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)Ab和試驗(yàn)Ad與早期版本無實(shí)質(zhì)性的差異，增加試驗(yàn)Ae的目的主要是檢測(cè)那些要求在整個(gè)試驗(yàn)過程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運(yùn)行的設(shè)備。
本低溫試驗(yàn)的目的僅限于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。
本低溫試驗(yàn)不能用來評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T 2423.22。
本低溫試驗(yàn)方法細(xì)分為以下幾種：
——非散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn)：
●試驗(yàn)Ab，溫度漸變。
——散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn)：
●試驗(yàn)Ad，溫度漸變;
●試驗(yàn)Ae，溫度漸變，試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電。
本部分給出的試驗(yàn)方法通常用于試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。