環(huán)境應(yīng)力篩選試驗規(guī)范列表
應(yīng)力篩選規(guī)范列表
應(yīng)力篩選規(guī)范：
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MIL-202C-106、107
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電子及電器部件試驗方法標準
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MIL-781
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可靠性試驗方法手冊
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HB/Z213
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機載電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選指南
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HB6206
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機載電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選方法
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JESD22-A109-A
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器密試驗方法
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TE000-AB-GTP-020
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環(huán)境應(yīng)力篩選要求與海軍電子設(shè)備應(yīng)用
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CFR-Title 47-Chapter I-68.302
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美國聯(lián)邦通訊委員會環(huán)境模擬
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GJB/Z34
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電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指南
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HB/Z213
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組件級環(huán)境應(yīng)力篩選
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溫度循環(huán)：
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EC 68-2-14
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溫度變化
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MIL-STD-2164
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電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選方法=GJB1032-1990
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GJB1032-1990
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電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選方法
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DOD-HDBK-344
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電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選=GJB/Z34-1993
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NABMAT-9492
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美軍海軍製造篩選
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JIS C5030
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熱循環(huán)試驗
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零件預(yù)燒試驗：
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MIL-STD-883,Method 1008
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預(yù)燒
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MIL-STD-883,Method 1015
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(IC類預(yù)燒)
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MIL-STD-750,Method 1038
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(二極體類預(yù)燒)
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MIL-STD-750,Method1039
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電晶體類預(yù)燒)
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MIL-STD-883,Method 1010
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溫度循環(huán)
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MIL-M-38510
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軍用微型電路的一般規(guī)格
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MIL-S-19500
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半導體器件要求和特點
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系統(tǒng)預(yù)燒：
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MIL-781
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可靠性設(shè)計鑒定與生產(chǎn)接收試驗
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MIL-810
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美國軍標環(huán)境工程考慮和實驗室試驗
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