高低溫試驗(yàn)箱具有廣闊的使用范圍和溫度控制范圍，其性能指標(biāo)均滿足國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T10592的高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件，適用于GB/T2423.1 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行的低溫和高溫試驗(yàn)，適用于電工電子產(chǎn)品(包括零部件、設(shè)備和其他產(chǎn)品)的高低溫溫度試驗(yàn)。
1、高溫試驗(yàn)目的：用于確定產(chǎn)品在高溫氣候條件下的儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。
試驗(yàn)的嚴(yán)格程度取決于高溫的溫度和暴露持續(xù)時(shí)間。
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)： GB/T2423.2 IEC、EIA364、MIL-STD-810F等。
2、低溫試驗(yàn)目的：主要是為了決定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下的儲(chǔ)存、運(yùn)行、使用的適應(yīng)性，試驗(yàn)的嚴(yán)格程度取決于低溫的溫度和暴露持續(xù)時(shí)間。
參考的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 2423.1、IEC、EIC 364、MIL-STD-810F等。
3、交變濕熱試驗(yàn)的目的：高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域必備的測(cè)試項(xiàng)目，用于電工、電子及其他產(chǎn)品和材料的高溫、低溫、交變的測(cè)試和確定。
交變濕熱或恒定試驗(yàn)在溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
測(cè)試參考標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 2423.1 GB/T
2423.2、GB/T
2423.3、GB/T
2423.4。
4、溫度沖擊試驗(yàn)用于確定產(chǎn)品在溫度急劇變化的氣候環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。
考試的嚴(yán)格程度取決于高/低溫、停留時(shí)間和周期數(shù)。
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)： IEC4、GB2423.22、GJB150.5等。
5、快速溫變?cè)囼?yàn)：快速溫度變化試驗(yàn)箱是為了決定產(chǎn)品在高溫、低溫、快速或緩慢變化的氣候環(huán)境下的儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。
試驗(yàn)過(guò)程為常溫—低溫—低溫停留—高溫停留—常溫是非常重要的一個(gè)循環(huán)，溫度循環(huán)試驗(yàn)的嚴(yán)格程度由高/低溫范圍、停留時(shí)間和循環(huán)數(shù)決定。
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