功能強: 在20SCFM的流速下釋放-80oC的溫度。

快速性: 10秒中溫度實現(xiàn)+230oC 到-65oC的周期變化。
可靠性: 采用獨特的雙壓縮機技術(shù)，提供無與倫比的制冷能力和更長的使用壽命。
壓縮性: 比其他同類產(chǎn)品小34%外形尺寸。
便利性: 可分離的彩色觸摸屏控制器可使你在遠處實現(xiàn)監(jiān)控、測試。

應(yīng)用： 
測試components, MCMs, modules, PCBs, assemblies 
用來替代液氮
對設(shè)計的驗證 
失效分析
高低溫沖擊 
Thermal fixtures
對Tester Handler的溫度控制 

【Lab Companion 美國IC芯片溫度沖擊測試機適用范圍】

適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊（如收發(fā)器transceiver 高低溫測試、SFP光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進行IC
特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗

【Lab Companion 美國IC芯片溫度沖擊測試機工作原理】
1、試驗機輸出氣流罩將被測試品罩住，形成一個較密閉空間的測試腔，試驗機輸出的高溫或低溫氣流，使被測試品表面溫度發(fā)生劇烈變化，從而完成相應(yīng)的高低溫沖擊試驗；
2、可針對眾多元器件中的某一單個IC或其它元件，將其隔離出來單獨進行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件，與傳統(tǒng)冷熱沖擊試驗箱相比，溫變變化沖擊速率更快。
 
【Lab Companion美國 IC芯片溫度沖擊測試機工作模式】
A）2路主空氣管輸出，由分布頭分為8路供氣，帶2套1拖8 系統(tǒng)
B) 2種檢測模式 Air Mode 和DUT Mode
測試和循環(huán)于高溫/常溫/低溫(或者不要常溫）
【Lab Companion 美國IC芯片溫度沖擊測試機主要技術(shù)參數(shù)】
1. 樣品盒尺寸：大小可選
2. 制冷方式：采用風(fēng)冷式HFC環(huán)保制冷劑復(fù)疊系統(tǒng)，溫度可達-80℃
3. 噪音：≤65dB（A聲級）
4. 條件：風(fēng)冷式環(huán)境溫度在+23℃時
5. 溫度控制范圍：-80℃～+250℃
6. 沖擊溫度范圍：-60℃～+200℃
7. 溫度轉(zhuǎn)換時間：≤10秒
8. 溫度偏差：測試品恒定在-40℃時,溫度偏差為±1℃
9. 沖擊氣流量：2.2~8.4L/s(分為8路，每路0.23~1.06
L/s）連續(xù)氣流
10. 溫變速率降：RT+10℃降至-80℃≤60s
11. 試品表面溫度：RT+10℃降至-80℃約1分鐘試品表面溫度達到，氣體溫度與樣品溫度可選擇測控
12. 控制系統(tǒng)：采用進口智能PLC觸摸屏控制，7寸彩色屏
13. 試品：帶2套1拖8 系統(tǒng)，金屬封裝PCB板模塊8片；
14. 前端空氣經(jīng)干燥過濾器處理,產(chǎn)品測試區(qū)及附近無明顯結(jié)露現(xiàn)象。設(shè)備可以連續(xù)運轉(zhuǎn)不需進行除霜。
15. 外形尺寸：寬700×高1040×深900（mm）以實物為準(zhǔn)
16. 使用電源：AC  220V 50/60HZ

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